X-Ray сканеры

Однолучевая X-Ray система Techik с наклоном вниз

Производитель: TechikПищевая промышленность

Однолучевая система для бутылок и банок с улучшенным контролем придонной зоны.

Однолучевая X-Ray система Techik с наклоном вниз

Преимущества

Возможности системы

01

Контроль уровня наполнения

02

Настройка зоны контроля под формат тары

03

Повышенная чувствительность в придонной зоне

Применение

Для каких задач

  • Бутылки
  • Стеклянные банки
  • Жестяные банки

Описание

Принцип применения

Системы рентгеновского контроля используют проникающую способность рентгеновского излучения для обнаружения металлических и неметаллических плотных включений. Контроль применим к неметаллической и металлической упаковке; на результат не влияют температура, влажность и содержание соли в продукте.

Материалы

Документы и связанные материалы

Запросить консультацию по оборудованию

Укажите продукт и параметры линии для подбора Однолучевая X-Ray система Techik с наклоном вниз.

Укажите телефон или электронную почту — достаточно одного способа связи.